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ICD 植入后不良事件风险模型

作者:国际循环网日期:2014/7/24 15:00:47

Dodson 及同事开发并验证了一种风险模型，以预测埋藏式心脏转复除颤器（ICD）植入后院内不良事件。

　　Dodson 及同事开发并验证了一种风险模型，以预测埋藏式心脏转复除颤器（ICD）植入后院内不良事件。作者分析国家心血管数据登记（NCDR）ICD 注册研究的数据。总体上，4388 例（1.8%）患者至少经历过1 次院内并发症或死亡。13 项因素与不良结果风险升高独立相关。风险评分将患者分为不良事件低风险和高风险亚群（≤ 10 分，0.3%；≥ 30 分，4.2%）。作者开发出一种可预测接受ICD 植入患者院内不良事件风险的简单模型。该模型可用于决策共享以及校准医院绩效。

版面编辑：张楠责任编辑:马宇滢